《炬丰科技-半导体工艺》湿化学蚀刻技术
图书:《巨峰科技-半导体工艺》
文章:湿法化学蚀刻技术
编号:JFKJ-21-170
作者:鞠丰科技
概述??
湿法化学蚀刻的一般特??点是什么?
?各向同性硅蚀刻?
?各向异性硅蚀刻?
各向异性 GaAs 蚀刻?
?SiO2、Al 和 Cr 的各向同性蚀刻?
p>?选择蚀刻和蚀刻停止?
?特殊蚀刻技术?
-电局部蚀刻?
-接触蚀刻和贯通蚀刻?
——平板蚀刻?
-缺陷描述蚀刻
-探针尖端蚀刻?
蚀刻均匀性和粗糙度?
?蚀刻的均匀性决定了表面的水平?
从初始平面开始生产。 ?
-均匀度是地表高度变化的长尺度量度。 ?
?蚀刻的粗糙度决定表面的平整度?
从初始平面开始生产。 ?
-粗糙度是地表高度变化的短尺度量度。 ?
?均匀性的测量通常来自腐蚀的测量?
??轻微
腐蚀各向异性轻微
各向异性蚀刻轻微
轻微氧化还原反应
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