化学通报

《炬丰科技-半导体工艺》湿化学蚀刻技术

 

图书:《巨峰科技-半导体工艺》

文章:湿法化学蚀刻技术

编号:JFKJ-21-170

作者:鞠丰科技


概述??

湿法化学蚀刻的一般特??点是什么?

?各向同性硅蚀刻?

?各向异性硅蚀刻?

各向异性 GaAs 蚀刻?

?SiO2、Al 和 Cr 的各向同性蚀刻?

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?选择蚀刻和蚀刻停止?

?特殊蚀刻技术?

-电局部蚀刻?

-接触蚀刻和贯通蚀刻?

——平板蚀刻?

-缺陷描述蚀刻

-探针尖端蚀刻?

蚀刻均匀性和粗糙度?

?蚀刻的均匀性决定了表面的水平?

从初始平面开始生产。 ?

-均匀度是地表高度变化的长尺度量度。 ?

?蚀刻的粗糙度决定表面的平整度?

从初始平面开始生产。 ?

-粗糙度是地表高度变化的短尺度量度。 ?

?均匀性的测量通常来自腐蚀的测量?

??轻微

腐蚀各向异性轻微

各向异性蚀刻轻微

轻微氧化还原反应